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    HDI布線空間緊張?試試這幾種優(yōu)化策略

    2025
    06/23
    本篇文章來自
    捷多邦

    HDI 布線空間緊張是高頻遇到的問題。我們?cè)趯?shí)際設(shè)計(jì)中發(fā)現(xiàn),材料的介電常數(shù)(Dk)、介質(zhì)厚度和銅箔粗糙度等參數(shù),直接影響布線可行性與信號(hào)完整性。以介電常數(shù)為例,常規(guī) FR-4 材料 Dk 4.4,而低介電常數(shù)材料(如 Dk 2.2 PTFE 材質(zhì))能顯著降低信號(hào)傳輸延遲,但價(jià)格高出 2-3 倍,且加工難度大幅增加。

     

    采用細(xì)線化工藝可有效緩解布線壓力。實(shí)踐中,將線寬 / 線距從常規(guī)的 80μm/80μm 縮小至 30μm/30μm,可使布線密度提升近 3 倍。但需注意,細(xì)線化對(duì)銅箔粗糙度要求極高,RA 值需控制在≤0.5μm,否則會(huì)導(dǎo)致特征阻抗波動(dòng)超標(biāo)。同時(shí),細(xì)線在蝕刻過程中易出現(xiàn)斷線,需將蝕刻因子控制在 1.8-2.2 之間,且良品率會(huì)下降 10%-15%。

    盲埋孔技術(shù)是優(yōu)化空間的重要手段。通過采用 0.1mm 盲孔替代 0.3mm 通孔,可節(jié)省 60% 以上的布線層占用。但盲孔加工對(duì)激光能量控制極為敏感,能量偏差超過 ±5% 就會(huì)導(dǎo)致孔壁質(zhì)量下降。在汽車電子等高溫應(yīng)用場(chǎng)景中,還需考慮盲孔與基材 CTE(熱膨脹系數(shù))的匹配性,常規(guī) FR-4 材料 CTE 15ppm/℃,若采用低 CTE BT 樹脂材料(CTE 8ppm/℃),雖能提升可靠性,但成本會(huì)增加 40% 左右。

     

    扇出布線設(shè)計(jì)也是常用策略。將 BGA 焊盤通過 0.15mm 微孔扇出,可實(shí)現(xiàn)表層布線的高效利用。但這種方式會(huì)增加過孔數(shù)量,導(dǎo)致寄生電容增大(每個(gè)過孔約引入 0.2pF 電容),影響高速信號(hào)傳輸。因此在 10Gbps 以上速率設(shè)計(jì)時(shí),需嚴(yán)格控制過孔數(shù)量,并采用背鉆工藝去除多余的 Stub(殘樁)。

     

    綜合來看,解決 HDI 布線空間緊張問題,需綜合權(quán)衡性能、成本與工藝難度。建議優(yōu)先通過細(xì)線化和盲埋孔技術(shù)提升布線密度,同時(shí)關(guān)注材料參數(shù)與工藝控制。在成本敏感項(xiàng)目中,可采用階梯式優(yōu)化策略,逐步調(diào)整工藝參數(shù),在滿足設(shè)計(jì)要求的前提下實(shí)現(xiàn)效益最大化。

     


    the end